MKS Instruments stellt Ophir Fast Photo Diode vor

Ophir Fast Photo Dioden eignen sich ideal zur Prüfung und Messung gepulster Laser und VCSELs (Bildquelle: @Ophir)
MKS Instruments präsentierte auf der SPIE Photonics West die Ophir Fast Photo Dioden. Die schnellen, vorgespannten PIN-Photodioden eignen sich ideal zur Prüfung und Messung gepulster Laser und VCSELs. Die Detektoren nutzen den photovoltaischen Effekt, um schnelle optische Pulse in elektrische Signale zu wandeln. Die Ophir Fast Photo Dioden sind in einer Vielzahl unterschiedlicher Konfigurationen erhältlich und decken das Wellenlängenspektrum von 190 bis 1700 nm ab. Die Anstiegs- und Abfallzeiten ...
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Ophir Photonics erhält ISO/IEC17025 Zertifizierung

Ophir Photonics erhält ISO/IEC17025 Zertifizierung für Kalibrierlabor in Israel (Bildquelle: @Ophir)
MKS Instruments zeigt sich erfreut über die ISO/IEC17025 Zertifizierung seines Ophir Photonics Kalibrierlabors in Jerusalem, Israel. Die begehrte ISO/IEC 17025 Zertifizierung erhalten ausschließlich Kalibrierlabore, die in Qualität, Verwaltung und technischem Betrieb höchste Standards erfüllen. Die Akkreditierung umfasst Ophirs Photodioden, pyroelektrische und thermische Leistungs- und Energiesensoren sowie die Anzeigegeräte und PC-Schnittstellen zur Darstellung und Auswertung der Messungen.

Die Kalibrierlabore in Jerusalem, Israel, und in North Logan, Utah, sind ...
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Neue Ophir Kamera zur Strahlprofilmessung von MKS

Schnell und flexibel: Ophir Spiricon SP920G mit GigE-Schnittstelle (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)
Die neue Ophir Spiricon SP920G Kamera von MKS Instruments vereint die Vorzüge einer hochauflösenden CCD-Kamera mit ausgezeichnetem Signal-Rausch-Verhältnis, mit der Flexibilität und Schnelligkeit eines GigE Ethernet-Anschlusses. Dadurch kann die Kamera, die in einem robusten und kompakten Gehäuse verbaut ist, auch in größerer Entfernung vom PC betrieben werden. Laserstrahlen lassen sich somit auch in Umgebungen messen, die aus Sicherheits- oder räumlichen Gründen beispielsweise mit einem USB-Anschluss nicht erreicht werden könnten ...
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Fluoreszenzmikroskopie: Neuer Ophir PD300-MS Power Meter

Ophir PD300-MS Power Meter zur Messung von NA Mikroskop-Objektiven (Bildquelle: @Ophir)
MKS Instruments stellt das neue Leistungsmessgerät Ophir PD300-MS zur präzisen Messung von emittiertem Licht bei der Fluoreszenzmikroskopie vor. Der Sensor misst die Leistungsstufen von Objektiven mit hoher numerischer Apertur (NA) im Bereich von 5 Mikrowatt bis 1W. Ein spezieller Filter sorgt für eine geringe Winkelabhängigkeit und ermöglicht damit sehr präzise Messergebnisse. Die NIST-rückführbare Kalibration gilt für Wellenlängen von 350 bis 1100 nm. Das Leistungsmessgerät arbeitet mit einer Vielzahl an ...
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Laser messen: MKS stellt Ophir Focal Spot Analyzer vor

Ophir Focal Spot Analyzer überwacht Laserparameter in der Materialbearbeitung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)
MKS Instruments präsentiert den Ophir Focal Spot Analyzer. Das Messgerät zur Überwachung des Laserstrahls vermisst den Fokus und die Leistung von Hochleistungs-Lasern in Echtzeit. Der Focal Spot Analyzer misst den Durchmesser des Laserstrahls im Fokus bis hinunter auf 35 Mikrometer und die Laserleistung von kleiner 1 bis 400 Watt bei Wellenlängen zwischen 266 und 1100 nm. Das System wurde für Laseranwendungen entwickelt, die nur eine geringe Arbeitsentfernung aufweisen. Es ...
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Additive Fertigung: MKS Ophir präsentiert BeamWatch AM

BeamWatch AM ermittelt wesentliche Charakteristiken des Laserstrahls in der Additiven Fertigung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH)
Leicht, kompakt und gezielt entwickelt für die Anforderungen der Additiven Fertigung: Mit BeamWatch AM stellt MKS Ophir das erste berührungslos arbeitende Laserstrahlmessgerät für die Additive Fertigung vor. Es zeichnet sich dadurch aus, dass selbst die Fokusshift des Lasers in Echtzeit gemessen werden kann. Darüber hinaus liefert BeamWatch AM zahlreiche Strahlparameter wie Strahlgröße und -position sowie Fokusgröße und die Strahlkaustik. Diese Messungen ermöglichen es den Anwendern, einfach und schnell festzustellen, ...
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High Power und Additive Manufacturing im Fokus von MKS Ophir

Nicolas Meunier verstärkt das Business Development Team bei MKS Ophir (Bildquelle: MKS Ophir)
MKS Ophir verstärkt sein Engagement in der industriellen Messtechnik sowohl für Hochleistungslaser als auch für Lasersysteme der Additiven Fertigung: Nicolas Meunier verantwortet zukünftig als Business Development Manager die beiden Wachstumsbranchen weltweit. Der erfahrene Ingenieur begleitet die Entwicklung neuer Messtechnik in diesen Bereichen, führt diese gemeinsam mit den regionalen Vertriebsteams im Markt ein und liefert Ideen für zukünftige Lösungen in der Messtechnik für Laser.

Nicolas Meunier verfügt über mehr ...
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Robustes Laserstrahlmessgerät: MKS stellt Ophir BeamSquared 2.0 vor

Robustes Laserstrahlmessgerät: MKS stellt Ophir BeamSquared 2.0 vor
BeamSquared 2.0 mit erweitertem Funktionsumfang: 3D-Darstellung des Strahls, umfangreiches Reporting, Automatisierungsschnittstelle über .NET- ...
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Hohe Laserleistung ohne aufwendige Wasserkühlung messen

Hohe Laserleistung ohne aufwendige Wasserkühlung messen
Ophir Spiricon bietet kompakte Sensoren für schnelle Messergebnisse
Ophir Spiricon erweitert sein Angebot um vier thermische Sensoren, ...
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Laserqualität automatisiert messen mit dem EA-1 Ethernet Adapter

Ophir Spiricon EA-1 Ethernet Adapter für OEM Smart Lasersysteme vereinfacht Qualitätsmanagement
Ab sofort lassen sich Ophir Smart ...
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Hochsensitives Radiometer misst selbst minimale Leistungen bis 300 fW

Hochsensitives Radiometer misst selbst minimale Leistungen bis 300 fW
Lasermesstechnik: Ophir Spiricon stellt neues RM9-PD Radiometer vor
Ophir Spiricon erweitert sein Lasermesstechnik-Portfolio mit dem RM9-PD ...
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